Cari
+86-138-1482-9868 +86-512-65283666

Penyediaan sampel EBSD seramik silikon karbida

#SiCCeramic #EBSD #MetallographicSamplePrep #Bahan Semikonduktor #Ujian Bahan

Silikon karbida Seramik (SiC) mempunyai kekonduksian terma yang luar biasa, rintangan suhu tinggi, rintangan haus dan kakisan, diterima pakai secara meluas dalam pembuatan semikonduktor, PV tenaga baharu, perlindungan haba aeroangkasa dan metalurgi suhu tinggi. Prestasi perkhidmatan mereka didominasi oleh morfologi butiran, keadaan sempadan butiran dan tegasan sisa.

EBSD berfungsi sebagai kaedah pencirian penting untuk menganalisis orientasi butiran, tekstur dan kecacatan mikro SiC. Data EBSD yang boleh dipercayai membimbing pengoptimuman pensinteran dan mengelakkan kegagalan komponen. Penyediaan spesimen yang tepat menentukan kejayaan pengindeksan EBSD untuk seramik SiC yang keras & rapuh. Kertas pasir standard gagal mengisar; cakera berlian serta penggilap getaran diperlukan.

Silicon carbide ceramic EBSD sample preparation micrograph 1

Rajah 1: Mikrograf sampel seramik silikon karbida (SiC) (Skala: 300μm)

Silicon carbide ceramic EBSD sample preparation micrograph 2

Rajah 2: Mikrograf sampel seramik silikon karbida (SiC) (Skala: 300μm)

Prosedur Persediaan SiC EBSD kami:

1️⃣ Pengisaran kasar dengan cakera berlian P400 untuk planarisasi
2️⃣ Pengisaran halus: pad POS 9μm PD-WT penggantungan berlian
3️⃣ Penggilapan kasar: Kain SC-JP 3μm ampaian PD-WT
4️⃣ Penggilapan pertengahan: ZN-ZP kain AO-A439 penggantungan
5️⃣ Penggilapan getaran akhir: penggantungan kain ZN-ZP AO-A439
#Trojan | #Trojanmetallography

Disyorkan